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Vinculación temporal y desvinculación en empaques avanzados: progreso reciente y aplicaciones

Autores: Mo, Zihao; Wang, Fangcheng; Li, Jinhui; Liu, Qiang; Zhang, Guoping; Li, Weimin; Yang, Chunlei; Sun, Rong

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico
2023

Vinculación temporal y desvinculación en empaques avanzados: progreso reciente y aplicaciones


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Unión
Desunión
Tecnologías
Materiales
Métodos
Aplicaciones

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 48

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Las tecnologías de unión/desunión temporal (TBDB) han contribuido en gran medida a la fabricación fiable de dispositivos delgados. Sin embargo, el rápido desarrollo de dispositivos a gran escala, de alta precisión y ultrafinos en el campo de la semiconductores también ha propuesto requisitos más estrictos para las tecnologías TBDB. Aquí, deliberamos sobre el reciente progreso de materiales para unión temporal y diferentes tecnologías de desunión en la última década. Varios métodos comunes de desunión son descritos, incluyendo deslizamiento térmico, disolución química húmeda, pelado mecánico y ablación láser. Revisamos el estado actual de diferentes tecnologías de desunión y destacamos las aplicaciones de las tecnologías TBDB en el empaquetado electrónico avanzado. Se proponen posibles soluciones para los desafíos y oportunidades enfrentados por diferentes tecnologías TBDB. En última instancia, intentamos proponer una perspectiva sobre su futuro desarrollo y más posibles aplicaciones. Creemos que los esquemas simples y los datos refinados presentados en esta revisión darían a los lectores una comprensión profunda de las tecnologías TBDB y sus vastos escenarios de aplicación en el futuro empaquetado electrónico avanzado.

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