Uso Potencial de la Placa de Respaldo del Objetivo IFMIF-DONES para Especímenes de Materiales
Autores: Qiu, Yuefeng; Arbeiter, Frederik; Bernardi, Davide; Frisoni, Manuela; Gordeev, Sergej; Hernández, Rebeca; Serikov, Arkady
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2022
Acceso abierto
Artículo científico
2022
Uso Potencial de la Placa de Respaldo del Objetivo IFMIF-DONES para Especímenes de Materiales
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Nuclear
Palabras clave
Futuro
Instalación IFMIF-DONES
Placa trasera
Irradiación
DPA
Especímenes
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 28
Citaciones: Sin citaciones
En la instalación IFMIF-DONES del futuro, la placa trasera detrás del objetivo de litio recibirá una fuerte irradiación de neutrones de alta energía. El uso potencial de la placa trasera para muestras de material es atractivo en cuanto a proporcionar datos de irradiación complementarios para Eurofer. En este trabajo, se han estudiado las tasas de DPA (desplazamientos por átomo) y producción de gas, así como los gradientes de DPA y las distribuciones de temperatura para el segmento central de la placa trasera, utilizando tanto un haz nominal como un haz reducido. Se demuestra que se pueden producir muestras con un alto DPA en condiciones similares a las del primer muro del DEMO. Basado en el tamaño de las muestras SSTT (tecnología de prueba de pequeñas muestras), el número limitado de muestras obtenibles del esquema de disposición adoptado está impulsado por una restricción principal: el grosor de la placa trasera. Un estudio paramétrico del grosor de la placa trasera proporciona un esquema de disposición alternativo; así, el DPA y el gradiente de las muestras mejoran notablemente.
Descripción
En la instalación IFMIF-DONES del futuro, la placa trasera detrás del objetivo de litio recibirá una fuerte irradiación de neutrones de alta energía. El uso potencial de la placa trasera para muestras de material es atractivo en cuanto a proporcionar datos de irradiación complementarios para Eurofer. En este trabajo, se han estudiado las tasas de DPA (desplazamientos por átomo) y producción de gas, así como los gradientes de DPA y las distribuciones de temperatura para el segmento central de la placa trasera, utilizando tanto un haz nominal como un haz reducido. Se demuestra que se pueden producir muestras con un alto DPA en condiciones similares a las del primer muro del DEMO. Basado en el tamaño de las muestras SSTT (tecnología de prueba de pequeñas muestras), el número limitado de muestras obtenibles del esquema de disposición adoptado está impulsado por una restricción principal: el grosor de la placa trasera. Un estudio paramétrico del grosor de la placa trasera proporciona un esquema de disposición alternativo; así, el DPA y el gradiente de las muestras mejoran notablemente.