La medición de la temperatura es esencial en las industrias. Las ventajas de los detectores de temperatura de resistencia (RTDs) son alta sensibilidad, repetibilidad y estabilidad a largo plazo. El rendimiento de medición de este termómetro es motivo de preocupación. La conexión entre los RTDs y un nuevo sistema de microprocesador proporciona un nuevo método para mejorar el rendimiento de los RTDs. En este estudio, se evaluaron las secciones adecuadas por tramos y el orden de las ecuaciones de calibración polinómicas. Se encontraron errores sistemáticos cuando la relación entre la temperatura y la resistencia para los datos de PT-1000 se expresó utilizando la ecuación inversa de Callendar-Van Dusen. La precisión de estas ecuaciones de calibración se puede mejorar significativamente con dos ecuaciones por tramos en diferentes rangos de temperatura. Se midieron dos conjuntos de datos de la resistencia de los sensores PT-1000 en el rango de 0 grados C a 50 grados C. El primer conjunto de datos se utilizó para establecer ecuaciones de calibración adecuadas mediante análisis de regresión. En el segundo conjunto de datos, se calcularon las temperaturas de predicción mediante estas ecuaciones de calibración previamente establecidas. La diferencia entre las temperaturas de predicción y la temperatura estándar se utilizó como criterio para evaluar el rendimiento de predicción. La precisión y exactitud de los sensores PT-1000 podrían mejorarse significativamente con ecuaciones de calibración adecuadas. La precisión y exactitud fueron de 0.027 grados C y 0.126 grados C, respectivamente. La técnica desarrollada en este estudio podría utilizarse para otros sensores RTD y/o diferentes rangos de temperatura.