Una encuesta sobre técnicas de verificación formal para sistemas en chip críticos para la seguridad
Autores: Grimm, Tomás; Lettnin, Djones; Hübner, Michael
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2018
Acceso abierto
Artículo científico
2018
Una encuesta sobre técnicas de verificación formal para sistemas en chip críticos para la seguridad
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Miniaturización
Sistemas integrados
Sistemas críticos de seguridad
Microelectrónica
Estándar ISO 26262
Técnicas de verificación
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 33
Citaciones: Sin citaciones
El alto grado de miniaturización en la industria electrónica ha sido, durante varios años, un impulsor para llevar los sistemas integrados a diferentes campos y aplicaciones.
Descripción
El alto grado de miniaturización en la industria electrónica ha sido, durante varios años, un impulsor para llevar los sistemas integrados a diferentes campos y aplicaciones.