Una aplicación de las distancias para caracterizar espacios métricos completos
Autores: Romaguera, Salvador
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Una aplicación de las distancias para caracterizar espacios métricos completos
Categoría
Matemáticas
Subcategoría
Análisis matemático
Palabras clave
Noción
Distancia
Métrica
Punto fijo
Completo
Caracterización
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 21
Citaciones: Sin citaciones
La noción de -distancia, introducida por Hussain et al., proporciona una generalización natural al marco métrico de la conocida y fructífera noción de -distancia, iniciada por Kada et al. Desde entonces, varios autores han obtenido teoremas de punto fijo para espacios -métricos completos con la ayuda de -distancias. En esta nota, generalizamos la versión -métrica del célebre teorema de punto fijo de Matkowski, enunciado por Czerwik, reemplazando la -métrica involucrada con cualquier -distancia en el espacio -métrico completo correspondiente. A partir de este resultado, derivamos caracterizaciones de espacios -métricos completos que constituyen generalizaciones completas tanto de una prominente caracterización de completitud métrica debido a Suzuki y Takahashi, como de la clásica caracterización de completitud métrica obtenida por Hu.
Descripción
La noción de -distancia, introducida por Hussain et al., proporciona una generalización natural al marco métrico de la conocida y fructífera noción de -distancia, iniciada por Kada et al. Desde entonces, varios autores han obtenido teoremas de punto fijo para espacios -métricos completos con la ayuda de -distancias. En esta nota, generalizamos la versión -métrica del célebre teorema de punto fijo de Matkowski, enunciado por Czerwik, reemplazando la -métrica involucrada con cualquier -distancia en el espacio -métrico completo correspondiente. A partir de este resultado, derivamos caracterizaciones de espacios -métricos completos que constituyen generalizaciones completas tanto de una prominente caracterización de completitud métrica debido a Suzuki y Takahashi, como de la clásica caracterización de completitud métrica obtenida por Hu.