Este documento propone un esquema de autoevaluación incorporado (BIST) para detectar fallas catastróficas en interruptores con bootstrap. La señal de reloj y el voltaje de puerta del transistor MOS de muestreo se toman como señales de observación en el esquema BIST propuesto. Por lo general, el voltaje de puerta del transistor MOS de muestreo es mayor o igual al voltaje de suministro cuando el interruptor está encendido, y tal voltaje no es adecuado para la observación. Para resolver este problema, se proporciona un voltaje de suministro de baja potencia para el interruptor con bootstrap para obtener un voltaje de observación adecuado. El esquema BIST propuesto y el circuito bajo prueba (CUT) se realizan a nivel de transistor. El esquema BIST propuesto fue simulado por HSPICE. La cobertura de fallas simulada es aproximadamente del 87.9% con 66 circuitos de prueba.