Debido a la reducción agresiva de escala, el diseño endurecido contra perturbaciones en múltiples nodos se ha convertido en una preocupación importante en cuanto a endurecimiento contra radiación. El latch propuesto supera las limitaciones de arquitectura y rendimiento de los latches resilientes a doble perturbación de nodo (DNU) de vanguardia. Se ha desarrollado un nuevo elemento de latch apilado con múltiples umbrales, arquitectura regular, un mayor número de nodos insensibles a perturbaciones de un solo evento (SEU), baja disipación de energía y alta robustez. También se propone un diseño de distribución consciente de la radiación que considera problemas a nivel de distribución. En comparación con los latches resilientes a DNU de vanguardia, los resultados de simulación muestran que el latch propuesto presenta una reducción de hasta el 92% en la demora y del 80% en la potencia en la proporción de actividad de datos (DAR) del 100%. La simulación de radiación utilizando el modelo de fuente de corriente exponencial doble-doble muestra que el latch propuesto tiene la mayor capacidad de endurecimiento contra radiación entre los otros latches resilientes a DNU.