Diseños de traba de doble nodo resistente a alteraciones y traba de triple nodo resistente a alteraciones de alto rendimiento
Autores: Xu, Hui; Zhou, Le; Liang, Huaguo; Huang, Zhengfeng; Sun, Cong; Ning, Yafei
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2021
Acceso abierto
Artículo científico
2021
Diseños de traba de doble nodo resistente a alteraciones y traba de triple nodo resistente a alteraciones de alto rendimiento
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Errores suaves
Circuitos integrados
Diseños de latches
Doble perturbación de nodo
Triple perturbación de nodo
Entorno de radiación
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 24
Citaciones: Sin citaciones
Para evitar errores suaves en circuitos integrados, este artículo presenta dos diseños de traba de alto rendimiento, a saber, LOCDNUTRL y LOCTNUTRL, que protegen contra la perturbación de doble nodo (DNU) y la perturbación de triple nodo (TNU) en entornos de radiación severa.
Descripción
Para evitar errores suaves en circuitos integrados, este artículo presenta dos diseños de traba de alto rendimiento, a saber, LOCDNUTRL y LOCTNUTRL, que protegen contra la perturbación de doble nodo (DNU) y la perturbación de triple nodo (TNU) en entornos de radiación severa.