Informamos sobre técnicas avanzadas para la caracterización precisa de los Transductores Ortomodales (OMTs) de ondas milimétricas que permiten la derivación de los parámetros fundamentales de dichos dispositivos, es decir, la pérdida de inserción, la pérdida de retorno, la polarización cruzada y el aislamiento. Estas técnicas incluyen métodos estándar de medición en dominio de frecuencia y en dominio de tiempo con VNA (Analizador de Red de Vector), que pueden aplicarse para eliminar los efectos de las transiciones de guía de onda necesarias para acceder a los puertos del OMT y excitar los modos deseados.