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Una técnica de reflectometría de microondas para perfilar las propiedades dieléctricas-conductividad de la esfera de la Hagia Sophia

Autores: Vazouras, Christos N.; Kasapoglu, George B.; Karagianni, Evangelia A.; Uzunoglu, Nikolaos K.

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2018

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Acceso abierto

Artículo científico
2018

Una técnica de reflectometría de microondas para perfilar las propiedades dieléctricas-conductividad de la esfera de la Hagia Sophia


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería de Sistemas

Palabras clave

Microondas
Reflectometría
Perfilado
Estructuras de pared
Capas ocultas
Hagia Sophia

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 18

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Una técnica de reflectometría de espacio libre de microondas con mediciones de frecuencia barrida para el perfilado de estructuras de pared y la detección de capas ocultas ha sido aplicada al monumento bizantino de Hagia Sophia. Se presentan los resultados de las mediciones experimentales y se comparan con los resultados simulados tridimensionales (3D), mostrando una concordancia aceptable en algunos aspectos (aunque no en todos). Basándose en los resultados experimentales, se demuestra la posibilidad de discriminar claramente entre regiones con y sin capas de mosaico cubiertas, y por lo tanto, la detección de dichas capas.

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