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Mapeo de Susceptibilidad a Deslizamientos de Tierra Basado en SIG en la Península del Peloponeso, Grecia

Autores: Chalkias, Christos; Ferentinou, Maria; Polykretis, Christos

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2014

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Acceso abierto

Artículo científico
2014

Mapeo de Susceptibilidad a Deslizamientos de Tierra Basado en SIG en la Península del Peloponeso, Grecia


Categoría

Ciencias Naturales y Subdisciplinas

Subcategoría

Ciencias de la Tierra y Geología

Palabras clave

Mapa de susceptibilidad a deslizamientos de tierra
Peloponeso
Entorno SIG
Análisis estadístico
Inventario de deslizamientos
Modelo bivariado

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 17

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
En este artículo, se aplicó y validó un modelo de análisis estadístico bivariado para derivar un mapa de susceptibilidad a deslizamientos de tierra de Peloponeso (Grecia) a escala regional. Para este propósito, se analizaron factores condicionantes de deslizamientos de tierra como la elevación, la pendiente, la orientación, la litología, el uso del suelo, la precipitación media anual (PMA) y la aceleración del suelo máxima (ASM), así como un inventario de deslizamientos de tierra dentro de un entorno SIG. Se realizó un conjunto de datos de deslizamientos de tierra utilizando dos inventarios principales de deslizamientos. El método del índice estadístico de deslizamientos de tierra (IED) produjo un mapa de susceptibilidad del área de estudio y el nivel de probabilidad de ocurrencia de deslizamientos de tierra se clasificó en cinco categorías según el mejor método de clasificación de tres métodos diferentes probados. El rendimiento del modelo se verificó mediante un conjunto de validación independiente de eventos de deslizamientos de tierra. La precisión del resultado final se evaluó mediante el análisis de características operativas del receptor (ROC). La capacidad de predicción se encontró en un 75.2%, lo que indica un mapa de susceptibilidad aceptable obtenido del modelo estadístico bivariado basado en SIG.

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