Modelado y supresión de interferencia conducida en fuentes de alimentación Flyback basadas en dispositivos GaN
Autores: Yan, Jichi; Wu, Haoyuan; Fu, Xueliang; Li, Mingtong; Yu, Yannan
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Modelado y supresión de interferencia conducida en fuentes de alimentación Flyback basadas en dispositivos GaN
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Aplicación
Dispositivos de potencia GaN
Densidad de potencia
Fuentes de alimentación flyback
Interferencia electromagnética
Ruido de modo común
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 26
Citaciones: Sin citaciones
La aplicación de dispositivos de potencia GaN ha aumentado significativamente la densidad de potencia de las fuentes de alimentación flyback, pero también ha causado graves problemas de interferencia electromagnética (EMI).
Descripción
La aplicación de dispositivos de potencia GaN ha aumentado significativamente la densidad de potencia de las fuentes de alimentación flyback, pero también ha causado graves problemas de interferencia electromagnética (EMI).