La imagenología por contraste de fase de rayos X (XPCI) es una familia de técnicas de imagen que hace visible el contraste debido a los cambios de fase en la muestra. Las técnicas sensibles a la fase pueden ser potencialmente varios órdenes de magnitud más sensibles que las técnicas basadas en la atenuación, encontrando aplicaciones en una amplia gama de campos, desde la biomedicina hasta la ciencia de materiales. La simulación precisa de XPCI permite la planificación de experimentos de imagen, reduciendo potencialmente la necesidad de acceso costoso a haces de sincrotrón para encontrar parámetros de imagen adecuados. También puede proporcionar datos de entrenamiento para algoritmos de recuperación de fase basados en aprendizaje automático recientemente propuestos. La simulación de XPCI se ha llevado a cabo clásicamente utilizando enfoques de óptica de ondas o de óptica de rayos. Sin embargo, estos enfoques no han sido capaces de simular todos los artefactos presentes en las imágenes experimentales. El creciente interés en la imagenología de campo oscuro también ha llevado a la inclusión de la dispersión en los códigos de simulación de XPCI. La dispersión se simula clásicamente utilizando códigos de transporte de partículas de Monte Carlo. La combinación de las dos perspectivas ha demostrado no ser sencilla, y se han propuesto varios métodos. Revisamos la literatura disponible sobre la simulación de XPCI, prestando atención a métodos particulares, incluida la componente de dispersión, y discutimos las posibles direcciones futuras para la simulación de efectos tanto de ondas como de partículas en XPCI.