En este documento, presentamos una solución integral a nivel de oblea para la prueba automática de MMIC (circuito integrado monolítico de microondas). La desincrustación de dos niveles OSL (circuito abierto cortocircuito carga), el modelo de verificación de calibración, la prueba precisa de PAE (eficiencia de potencia añadida) y las técnicas de medición de NF (figura de ruido) de fuente fría vectorizada optimizada se integran en esta solución para mejorar la precisión de la medición. Se aplica una topología de doble núcleo formada por un IPC (computadora personal industrial) y un VNA (analizador de redes vectoriales), y un software de prueba automática basado en una arquitectura de controlador de tres niveles, para mejorar la eficiencia de la prueba. El beneficio de esta solución es que todos los datos de un MMIC se pueden obtener con solo un contacto, lo que muestra precisión y eficiencia de vanguardia.