En este documento, proponemos un método para monitorear defectos en la superficie como grietas en estructuras altamente cargadas. Este método se basa en la capacidad de las grietas superficiales de abrirse bajo la influencia de cargas externas, lo que provoca la aparición de tensiones y desgarros en el elemento sensible-películas delgadas que fueron depositadas en la superficie del objeto de prueba. Desarrollamos un sistema para monitorear defectos en la superficie basado en un sensor de grietas distribuido, el esquema funcional del sensor y su diseño, el esquema estructural y algoritmo de funcionamiento del sistema, y su modelo como una descripción en VHDL (Lenguaje de Descripción de Hardware VHSIC (Circuitos Integrados de Muy Alta Velocidad)).