Sensores de corriente de efecto Hall susceptibilidad a EMI: estudio experimental
Autores: Aiello, Orazio
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2019
Acceso abierto
Artículo científico
2019
Sensores de corriente de efecto Hall susceptibilidad a EMI: estudio experimental
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Interferencia electromagnética
Sensores de corriente de efecto Hall
Sistemas de energía
Aislamiento galvánico
Sensado de corriente resistivo
Pruebas de EMI.
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 23
Citaciones: Sin citaciones
El documento trata sobre la susceptibilidad a la Interferencia Electromagnética (EMI) de los sensores de corriente de efecto Hall. Por lo general, se utilizan en sistemas de energía debido a su aislamiento galvánico. La robustez EMI de este dispositivo sin contacto se comparó con la del método de detección de corriente resistiva (método con cableado). Con este fin, se fabricó una placa de circuito impreso (PCB). Se realizaron pruebas EMI, como Inyección de Corriente a Granel (BCI), Celda Transversal-Electromagnética (TEM) e Inyección Directa de Potencia (DPI) para evaluar la robustez del sensor de corriente de Efecto Hall. Las fallas inducidas por EMI se resaltan al comparar las diferentes pruebas de medición y configuraciones.
Descripción
El documento trata sobre la susceptibilidad a la Interferencia Electromagnética (EMI) de los sensores de corriente de efecto Hall. Por lo general, se utilizan en sistemas de energía debido a su aislamiento galvánico. La robustez EMI de este dispositivo sin contacto se comparó con la del método de detección de corriente resistiva (método con cableado). Con este fin, se fabricó una placa de circuito impreso (PCB). Se realizaron pruebas EMI, como Inyección de Corriente a Granel (BCI), Celda Transversal-Electromagnética (TEM) e Inyección Directa de Potencia (DPI) para evaluar la robustez del sensor de corriente de Efecto Hall. Las fallas inducidas por EMI se resaltan al comparar las diferentes pruebas de medición y configuraciones.