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Plan de muestreo por atributos para lotes presentados basado en información previa y enfoque bayesiano

Autores: Zhao, Jing; Zhang, Fengyun; Zhang, Xuan; Hu, Yuping; Ding, Wenxing

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Plan de muestreo por atributos para lotes presentados basado en información previa y enfoque bayesiano


Categoría

Matemáticas

Subcategoría

Matemáticas generales

Palabras clave

Plan de muestreo por aceptación
Información previa
índice de capacidad del proceso
Plan de muestreo de atributos
Enfoque bayesiano
Nivel de confianza

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 21

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Un plan de muestreo de aceptación es un método utilizado para tomar una decisión sobre la aceptación o rechazo de un producto basado en la adherencia a un estándar. Mientras tanto, información previa, como el índice de capacidad del proceso (PCI), se ha aplicado en diferentes industrias manufactureras para mejorar la calidad de los procesos de fabricación y la inspección de calidad de los productos. En este documento, se desarrolla un plan de muestreo de atributos para lotes presentados basado en información previa y en un enfoque bayesiano. Los nuevos planes de muestreo de atributos ajustan los tamaños de muestra a la información previa basada en el estado del objetivo de inspección. Para ser específicos, los planes de muestreo en este documento están indexados por el parámetro de confianza con niveles de bajo, medio y alto, donde aumentar el nivel de confianza reduce el tamaño de la muestra o el riesgo. Los PCIs son una base importante para la elección del nivel de confianza. Además, se han realizado comparaciones múltiples, incluyendo el riesgo del productor y el riesgo del consumidor bajo diferentes parámetros de información previa y diferentes tamaños de muestra.

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