Plan de muestreo por atributos para lotes presentados basado en información previa y enfoque bayesiano
Autores: Zhao, Jing; Zhang, Fengyun; Zhang, Xuan; Hu, Yuping; Ding, Wenxing
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2024
Acceso abierto
Artículo científico
2024
Plan de muestreo por atributos para lotes presentados basado en información previa y enfoque bayesiano
Categoría
Matemáticas
Subcategoría
Matemáticas generales
Palabras clave
Plan de muestreo por aceptación
Información previa
índice de capacidad del proceso
Plan de muestreo de atributos
Enfoque bayesiano
Nivel de confianza
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 21
Citaciones: Sin citaciones
Un plan de muestreo de aceptación es un método utilizado para tomar una decisión sobre la aceptación o rechazo de un producto basado en la adherencia a un estándar. Mientras tanto, información previa, como el índice de capacidad del proceso (PCI), se ha aplicado en diferentes industrias manufactureras para mejorar la calidad de los procesos de fabricación y la inspección de calidad de los productos. En este documento, se desarrolla un plan de muestreo de atributos para lotes presentados basado en información previa y en un enfoque bayesiano. Los nuevos planes de muestreo de atributos ajustan los tamaños de muestra a la información previa basada en el estado del objetivo de inspección. Para ser específicos, los planes de muestreo en este documento están indexados por el parámetro de confianza con niveles de bajo, medio y alto, donde aumentar el nivel de confianza reduce el tamaño de la muestra o el riesgo. Los PCIs son una base importante para la elección del nivel de confianza. Además, se han realizado comparaciones múltiples, incluyendo el riesgo del productor y el riesgo del consumidor bajo diferentes parámetros de información previa y diferentes tamaños de muestra.
Descripción
Un plan de muestreo de aceptación es un método utilizado para tomar una decisión sobre la aceptación o rechazo de un producto basado en la adherencia a un estándar. Mientras tanto, información previa, como el índice de capacidad del proceso (PCI), se ha aplicado en diferentes industrias manufactureras para mejorar la calidad de los procesos de fabricación y la inspección de calidad de los productos. En este documento, se desarrolla un plan de muestreo de atributos para lotes presentados basado en información previa y en un enfoque bayesiano. Los nuevos planes de muestreo de atributos ajustan los tamaños de muestra a la información previa basada en el estado del objetivo de inspección. Para ser específicos, los planes de muestreo en este documento están indexados por el parámetro de confianza con niveles de bajo, medio y alto, donde aumentar el nivel de confianza reduce el tamaño de la muestra o el riesgo. Los PCIs son una base importante para la elección del nivel de confianza. Además, se han realizado comparaciones múltiples, incluyendo el riesgo del productor y el riesgo del consumidor bajo diferentes parámetros de información previa y diferentes tamaños de muestra.