En este documento, la modulación de los niveles de conductancia de los dispositivos de memoria de acceso aleatorio resistiva (RRAM) se utiliza para la generación de números aleatorios mediante la aplicación de un tren de pulsos de RESET. También se analiza la influencia de la amplitud y el ancho del pulso en la resistencia del dispositivo. Para cada característica del pulso, el número de pulsos necesarios para llevar el dispositivo a un umbral de resistencia particular es variable, y se explota para extraer números aleatorios. Basándose en este comportamiento, se propone un circuito generador de números aleatorios (RNG). Para evaluar el rendimiento del circuito, se aplican pruebas de aleatoriedad del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST) para evaluar la aleatoriedad de las secuencias de bits obtenidas. Los resultados experimentales muestran que se obtienen simultáneamente cuatro bits aleatorios, superando todas las pruebas aplicadas sin necesidad de post-procesamiento. El método presentado proporciona una nueva estrategia para generar números aleatorios basados en RRAMs para aplicaciones de seguridad de hardware.