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Retesting schemes that improve test quality and yield using a test guardband

Autores: Yeh, Chung-Huang; Chen, Jwu-E

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico
2023

Retesting schemes that improve test quality and yield using a test guardband


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería General

Palabras clave

Modelo de prueba de circuitos integrados digitales
CIs
Rendimiento de prueba
Calidad de prueba
Plan de retest
Industria automotriz

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 38

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
El modelo de módulo de prueba de circuitos integrados digitales (IC) se aplica en este estudio para simular la fabricación y prueba de circuitos integrados. La eficiencia y calidad de los ICs se analizan asumiendo que los dispositivos de la oblea bajo condiciones de prueba son distribuciones de probabilidad normales. Las dificultades de prueba y verificación se vuelven cada vez mayores a medida que la función de diseño del chip se vuelve notablemente compleja. Por el contrario, la cadena de suministro de chips de la industria automotriz se ha visto sustancialmente afectada desde el brote de COVID-19. La escasez de chips en el mercado automotriz siempre ha existido; por lo tanto, aumentar los chips disponibles bajo una capacidad de producción limitada se ha convertido en una prioridad. Por lo tanto, este estudio aplica el modelo de prueba de circuitos integrados digitales (DITM) y propone un plan de retest. Este método no requiere mucho tiempo para recopilar grandes datos de obleas, ni requiere equipo de hardware adicional. Además, se establecen los parámetros de calidad de prueba requeridos y la prueba se repite en el dispositivo ajustando la banda de protección de prueba (TGB). Además, se proponen tres esquemas de retest para mejorar la calidad de prueba de IC (Y) y el rendimiento de prueba (Y) para cumplir con los requisitos de los consumidores en cuanto a calidad del producto. Se utiliza un conjunto de parámetros del Roadmap Internacional de Dispositivos y Sistemas de IEEE 2021 (IRDS) para demostrar los tres esquemas de retest propuestos. Los resultados de la simulación de los datos de IRDS 2021 demuestran que el método de retest puede mejorar efectivamente el rendimiento de la prueba (Y). Una comparación de los resultados estimados de los tres métodos de retest muestra que el método de prueba repetida puede maximizar el rendimiento de la prueba sin sacrificar la calidad de la prueba (Y). Por otro lado, la repetición de pruebas puede mejorar efectivamente el rendimiento de la prueba (Y) en un 14% o más. Además, el aumento en los ICs vendibles no solo aumenta las ganancias adicionales para las corporaciones, sino que también alivia la escasez global actual de ICs automotrices.

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