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Diseño Conceptual de un Telescopio Espacial de 6 m en Eje en el Límite de Difracción: Características, Rendimiento y Ventajas

Autores: Calcines Rosario, Ariadna

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico
2023

Diseño Conceptual de un Telescopio Espacial de 6 m en Eje en el Límite de Difracción: Características, Rendimiento y Ventajas


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Aeroespacial

Palabras clave

Diseño conceptual
Telescopio en eje
Límite de difracción
Diseño Korsch
Error de frente de onda RMS
Anastigmático de Tres Espejos

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 37

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Este documento presenta el diseño conceptual de un telescopio espacial de 6 metros de apertura en eje, diseñado para cubrir un campo de visión de +/-0.2 grados con una calidad óptica en el límite de difracción dentro de un rango espectral entre 0.5 m y 2.5 m. La escala de placa es de 3 arcsec/mm, y la longitud total es inferior a 12 m. Se ha seleccionado un diseño Korsch basado en la excelente compensación de aberraciones que ofrecen los sistemas de Anastigmat de Tres Espejos. El diseño propuesto presenta algunas características: una respuesta casi plana en el error de frente de onda RMS a través del campo y para todo el rango espectral; se ha incluido un espejo plano para reducir el volumen total, y este se ha ajustado para ser colocado en una posición de pupila intermedia, actuando como un baffle para la luz parásita y como un Lyott para restringir la radiación de fondo. Este espejo presenta un agujero central, definido para la apertura de la pupila, permitiendo la transmisión del haz hacia el plano focal de la imagen, donde puede ser dividido para múltiples cargas útiles. También permite la transmisión del campo central, a 90 grados con respecto al haz científico, para ser utilizado en el monitoreo y corrección de Ópticas Activas del espejo primario con el fin de asegurar un rendimiento óptico óptimo. Esta solución en eje reduce significativamente la complejidad técnica para la fabricación, metrología, integración y pruebas, y tiene un impacto importante en el costo del telescopio.

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