La prueba de sesgo de temperatura y humedad de alto voltaje (HV-THB) se ha vuelto cada vez más popular para evaluar el rendimiento de dispositivos semiconductores de potencia. Dadas las nuevas desafíos de la industria de semiconductores de potencia, varias aplicaciones y dispositivos necesitan ser diseñados para soportar ambientes hostiles durante las operaciones de trabajo, con un enfoque notable en condiciones de alta humedad. La prueba HV-THB permite activar y estudiar diferentes mecanismos de falla que no fueron destacados por la prueba THB de bajo voltaje estándar, lo que permite nuevos diseños en varios campos de conversión de energía, como la recolección de energía, aplicaciones industriales y automotrices. Después de una breve introducción de las normas de prueba actuales, este trabajo pasa por las metodologías actuales y el estado del arte de la prueba HV-THB. Las siguientes secciones están dedicadas al conocimiento sobre los mecanismos de falla y los modelos para pruebas aceleradas. Finalmente, hay una sección dedicada a los principales materiales de pasivación para comprender sus efectos en las capacidades HV-THB de los dispositivos.