En este documento se presentó un método de resonador incrustado basado en guía de onda coplanar no conectada a tierra para la caracterización de sustratos de microondas. La constante dieléctrica efectiva de la estructura y la constante dieléctrica de los sustratos de microondas pueden calcularse mediante la frecuencia resonante medida. Las pérdidas de inserción medidas en las frecuencias resonantes y el ancho de banda de 3 dB pueden utilizarse para determinar los factores de calidad cargado y descargado, incluido el factor de calidad dieléctrico que está relacionado con la tangente de pérdida dieléctrica. Se tuvieron en cuenta las pérdidas por radiación y la longitud adicional debido al efecto de borde causado por la estructura de extremo abierto para mejorar la precisión de la extracción. El factor de calidad descargado experimental del resonador propuesto en el orden de resonancia 1 alcanza 211.3. La constante dieléctrica extraída y la tangente de pérdida dieléctrica de Taconic TLY en el orden de resonancia 1 son, respectivamente, 2.218 y , que son solo desviaciones de 0.018 (relativamente 0.82%) y (relativamente 3.18%) de los valores de la hoja de datos, respectivamente. El método de resonador propuesto es especialmente adecuado para la caracterización dieléctrica de materiales recientemente desarrollados con la dificultad de realizar agujeros de metal a través, en cuyo caso los métodos de resonador de guía de onda integrada en sustrato (SIW) no son aplicables. Al compararlo con los métodos de resonador de microcinta, el método propuesto tiene un factor de calidad más alto, y también es más confiable y económico.