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Interfaz de resistencia térmica de contacto de unión de troquel en paquetes de diodos láser de alta potencia

Autores: Deng, Liting; Li, Te; Wang, Zhenfu; Zhang, Pu; Wu, Shunhua; Liu, Jiachen; Zhang, Junyue; Chen, Lang; Zhang, Jiachen; Huang, Weizhou; Zhang, Rui

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Interfaz de resistencia térmica de contacto de unión de troquel en paquetes de diodos láser de alta potencia


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Fiabilidad
Diodos láser empaquetados
Unión de troqueles
Resistencia térmica
Contacto de interfaz
Diodo láser de alta potencia

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 27

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
La fiabilidad de los diodos láser empaquetados depende en gran medida de la calidad de la unión del dado. Incluso un pequeño vacío o despegue puede provocar un aumento repentino de la temperatura de la unión, lo que eventualmente lleva al fallo de la operación. La resistencia térmica de contacto en la interfaz entre la unión del dado y el disipador de calor juega un papel crítico en la gestión térmica de los paquetes de diodos láser de alta potencia.

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