A medida que la tecnología escala, la inestabilidad negativa de la temperatura del sesgo (NBTI) se convierte en uno de los mecanismos de falla primarios para los circuitos de Integración a Gran Escala (VLSI). Mientras tanto, la potencia de fuga aumenta drásticamente a medida que el voltaje de suministro/umbral continúa disminuyendo. Estos dos problemas plantean graves problemas de confiabilidad para los dispositivos de óxido metálico semiconductor complementario (CMOS). Dado que tanto la NBTI como la fuga dependen del vector de entrada del circuito, presentamos un método de control de vector de entrada (IVC) basado en un algoritmo de programación lineal, que puede co-optimizar el envejecimiento del circuito y la disipación de potencia simultáneamente. Además, nuestro método IVC propuesto se combina con la técnica de asignación de voltaje de suministro para reducir aún más la degradación del retardo y la potencia de fuga. Los resultados experimentales en varios circuitos muestran la efectividad del método de combinación propuesto.