En este documento, presentamos un nuevo método diseñado para reconocer fallas paramétricas individuales en circuitos analógicos. La técnica sigue un enfoque riguroso constituido por tres pasos secuenciales: calcular la testabilidad y extraer los grupos de ambigüedad del circuito bajo prueba (CUT); localizar la falla y colocarla en la clase de falla correcta (FC) a través de mediciones o simulaciones multifrecuencia; y (opcional) estimar el valor del componente defectuoso. Las tolerancias de fabricación de los componentes sanos se tienen en cuenta en cada paso del procedimiento. El trabajo combina técnicas de aprendizaje automático, utilizadas para clasificación y aproximación, con procedimientos de análisis de testabilidad para circuitos analógicos.