La deflectometría es un método de medición de fase de campo completo no destructivo, que se utiliza generalmente para inspeccionar especímenes ópticos con características especiales, como superficies altamente reflectantes o especulares, así como superficies de forma libre. Uno de los pasos importantes en el método de deflectometría es recuperar la superficie a partir de datos de pendiente de puntos en el mapa de la muestra o de la reconstrucción de la superficie. Este artículo propone un método de reconstrucción modal que utiliza un número ajustable de polinomios de Zernike. Además, el método propuesto permite el análisis de superficies prácticas que requieren que se represente un número infinito de términos de Zernike. Experimentos en superficies simuladas indicaron que el algoritmo es capaz de revelar el número de términos de Zernike que contribuyen significativamente, así como de reconstruir la superficie con una escala micrométrica a partir de datos de pendiente con una relación señal-ruido de 10.