Diagnóstico de fallas inducidas por radiación y técnicas de mitigación de diseño a nivel de circuito: experiencia de estudios de casos de circuitos integrados CMOS de VCO y conductor de alta velocidad
Autores: Monda, Danilo; Ciarpi, Gabriele; Saponara, Sergio
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2021
Acceso abierto
Artículo científico
2021
Diagnóstico de fallas inducidas por radiación y técnicas de mitigación de diseño a nivel de circuito: experiencia de estudios de casos de circuitos integrados CMOS de VCO y conductor de alta velocidad
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Endurecimiento a la radiación
Aplicaciones espaciales
Física de alta energía
Fallos inducidos por partículas
Dosis total de ionización
Efecto de evento único
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 32
Citaciones: Sin citaciones
En este documento, discutimos el diagnóstico de fallos inducidos por partículas en entornos hostiles como el espacio y la física de alta energía.
Descripción
En este documento, discutimos el diagnóstico de fallos inducidos por partículas en entornos hostiles como el espacio y la física de alta energía.