Las pruebas de radiación a nivel de sistema de la electrónica se evalúan, basadas en ejemplos de pruebas de irradiación del módulo System-in-Package (SiP). Se analizan las pruebas de dosis total de ionización y efectos de eventos individuales para comprender mejor las oportunidades y limitaciones del enfoque a nivel de sistema en el contexto de la calificación de radiación de la electrónica. Se discute el impacto en el desarrollo del producto SiP.