Los puntos cuánticos de GaN/AlN de Wurtzita (110) no polares para dispositivos optoelectrónicos altamente eficientes
Autores: Park, Seoung-Hwan; Ahn, Doyeol
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2020
Acceso abierto
Artículo científico
2020
Los puntos cuánticos de GaN/AlN de Wurtzita (110) no polares para dispositivos optoelectrónicos altamente eficientes
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Puntos cuánticos
Tasa de transición óptica
Campo electrostático
Efectos de polarización
Wurtzita
Intensidad de emisión de luz
Licencia
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Citaciones: Sin citaciones
En los puntos cuánticos de nitruro de III (QDs), la tasa de transición óptica es muy baja debido al gran campo electrostático incorporado causado por la polarización espontánea (SP) y los efectos piezoeléctricos (PZ). En este trabajo, estudiamos el potencial de pantalla que es una solución de la ecuación de Hartree autoconsistente teniendo en cuenta el campo electrostático incorporado y su efecto en las características de emisión de luz de los QD de GaN/AlN de wurtzita no polares (WZ). Se encontró que la intensidad de emisión de luz de la estructura de QD de GaN/AlN no polar se espera que sea aproximadamente cuatro veces mayor que la de la estructura de QD de GaN/AlN de plano c (0001) porque los elementos de matriz polarizados en la dirección - en el QD no polar son mayores que en el QD de plano c. Estas predicciones indican que la estructura de QD de GaN/AlN no polar tiene un gran potencial para dispositivos optoelectrónicos altamente eficientes.
Descripción
En los puntos cuánticos de nitruro de III (QDs), la tasa de transición óptica es muy baja debido al gran campo electrostático incorporado causado por la polarización espontánea (SP) y los efectos piezoeléctricos (PZ). En este trabajo, estudiamos el potencial de pantalla que es una solución de la ecuación de Hartree autoconsistente teniendo en cuenta el campo electrostático incorporado y su efecto en las características de emisión de luz de los QD de GaN/AlN de wurtzita no polares (WZ). Se encontró que la intensidad de emisión de luz de la estructura de QD de GaN/AlN no polar se espera que sea aproximadamente cuatro veces mayor que la de la estructura de QD de GaN/AlN de plano c (0001) porque los elementos de matriz polarizados en la dirección - en el QD no polar son mayores que en el QD de plano c. Estas predicciones indican que la estructura de QD de GaN/AlN no polar tiene un gran potencial para dispositivos optoelectrónicos altamente eficientes.