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Banco de pruebas sintético para la verificación de circuitos analógicos previa a la implementación en silicio basada en datos

Autores: Manolache, Cristian; Andronache, Cristina; Guzu, Alexandru; Caranica, Alexandru; Cucu, Horia; Buzo, Andi; Pelz, Georg

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Banco de pruebas sintético para la verificación de circuitos analógicos previa a la implementación en silicio basada en datos


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Proceso de verificación
Simulaciones
Circuitos sintéticos
Referencia
Algoritmos
Complejidad

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 32

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
A medida que aumenta la demanda de circuitos más complejos, también lo hace la duración de su creación y prueba. La tarea más demorada en el desarrollo de circuitos es notoriamente el proceso de verificación, principalmente debido al gran número de simulaciones (cientos o incluso miles) necesarias para garantizar que los circuitos cumplan con las especificaciones independientemente de las condiciones de funcionamiento. Para disminuir el número de simulaciones requeridas, se han propuesto varios algoritmos de verificación a lo largo de los años, pero esto conlleva un problema adicional: la validación exhaustiva de los algoritmos. Dado que las simulaciones en circuitos reales son significativamente demoradas, los circuitos sintéticos pueden ofrecer valiosos conocimientos sobre las capacidades del algoritmo de verificación. En este artículo, proponemos un conjunto de circuitos sintéticos que se puede utilizar para validar exhaustivamente los algoritmos de verificación previos al silicio (Pre-Si). El conjunto de pruebas recién creado consta de 900 circuitos sintéticos (funciones matemáticas) con dimensiones de entrada (variables) que van desde 2 hasta 10. Diseñamos el conjunto de pruebas para incluir funciones de diversas complejidades, reflejando las expectativas de circuitos del mundo real. Finalmente, utilizamos este conjunto de pruebas para evaluar un algoritmo de verificación de circuitos Pre-Si previamente propuesto como de última generación. Mostramos que este algoritmo generalmente obtiene errores de verificación relativos inferiores al 2% con menos de 150 simulaciones si los circuitos tienen menos de seis a siete condiciones de funcionamiento. Además, demostramos que algunos de los circuitos más complejos en el conjunto de pruebas plantean problemas serios para el algoritmo de verificación: el peor caso no se encuentra incluso cuando se utilizan 200 simulaciones.

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