Los diseños óptimos de planes de pruebas de vida acelerada de estrés constante son uno de los temas importantes en estudios de confiabilidad. Muchos dispositivos producidos tienen una confiabilidad muy alta bajo condiciones de operación normales. Entonces surge la pregunta de cómo tomar decisiones óptimas sobre los planes de pruebas de vida para recopilar suficiente información sobre las distribuciones de tiempo de vida correspondientes. La prueba de vida acelerada se ha convertido en un enfoque popular para abordar este problema en estudios de confiabilidad, que intenta extrapolar la información obtenida de condiciones de prueba acelerada a condiciones de operación normales. En este documento, desarrollamos un marco general para obtener planes de pruebas de vida acelerada de estrés constante óptimos para dispositivos de un solo uso con componentes dependientes, sujetos a restricciones de tiempo y presupuesto. El plan de prueba acelerada óptimo considera un enfoque económico para determinar el tiempo de inspección y el tamaño de muestra de cada condición de prueba acelerada de modo que la varianza asintótica del estimador de máxima verosimilitud para la vida media bajo condiciones de operación normales se minimice. Este estudio también investiga el impacto de la dependencia entre componentes en los diseños óptimos y proporciona recomendaciones prácticas sobre planes de pruebas de vida acelerada de estrés constante para dispositivos de un solo uso con componentes dependientes.