Método de prueba de inmunidad de campo cercano para la depuración rápida de pruebas de inmunidad radiada de electrónica automotriz
Autores: Yousaf, Jawad; Lee, Doojin; Han, JunHee; Lee, Hosang; Faisal, Muhammad; Kim, Jeongeun; Nah, Wansoo
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2019
Acceso abierto
Artículo científico
2019
Método de prueba de inmunidad de campo cercano para la depuración rápida de pruebas de inmunidad radiada de electrónica automotriz
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Estudio
Prueba de inmunidad de campo cercano
Método NFIT
Susceptibilidad radiada
Dispositivos industriales
Configuración NFIT desarrollada
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 28
Citaciones: Sin citaciones
Este estudio presenta un método de prueba de inmunidad de campo cercano (NFIT) para la rápida depuración de la susceptibilidad radiada de dispositivos industriales. El enfoque propuesto se basa en el desarrollo de un montaje NFIT que comprende sondas de campo eléctrico y magnético de campo cercano desarrolladas y el dispositivo en prueba (DUT).
Descripción
Este estudio presenta un método de prueba de inmunidad de campo cercano (NFIT) para la rápida depuración de la susceptibilidad radiada de dispositivos industriales. El enfoque propuesto se basa en el desarrollo de un montaje NFIT que comprende sondas de campo eléctrico y magnético de campo cercano desarrolladas y el dispositivo en prueba (DUT).