La prueba de confiabilidad es un flujo de pruebas en el que un dispositivo de Circuito Integrado (IC) se somete continuamente a estrés en varias condiciones límite que pueden adaptarse dinámicamente en función de la observación en tiempo real de las señales críticas del dispositivo durante la evolución de la prueba. Presentamos nuestro enfoque para un flujo exitoso de Prueba de Confiabilidad, yendo más allá de los objetivos del enfoque de confiabilidad tradicional, y cubriendo todo el proceso desde el diseño hasta el análisis de fallas.