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Enfoque basado en redes neuronales para la predicción de fallas y vida útil de componentes electrónicos bajo estrés de vida acelerada

Autores: Qiu, Yunfeng; Li, Zehong

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Enfoque basado en redes neuronales para la predicción de fallas y vida útil de componentes electrónicos bajo estrés de vida acelerada


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Investigadores
Dispositivos electrónicos
Inteligencia artificial
Aprendizaje automático
Internet de las cosas
Confiabilidad

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 54

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Investigadores de todo el mundo se han centrado en predecir con precisión la vida útil restante de dispositivos electrónicos para garantizar la fiabilidad en diversas industrias. Esto ha sido posible gracias a los avances en inteligencia artificial (IA), aprendizaje automático y tecnologías de Internet de las cosas (IoT). Sin embargo, predecir con precisión la vida útil de los dispositivos con conjuntos de datos mínimos, especialmente en aplicaciones industriales, sigue siendo un desafío. Este artículo tiene como objetivo abordar este desafío utilizando algoritmos de aprendizaje automático, específicamente BP, XGBOOST y KNN, para predecir la fiabilidad del dispositivo con datos limitados. El conjunto de datos restante de la vida de los componentes electrónicos se obtiene a través de simulaciones para entrenar y probar los algoritmos, y los resultados experimentales muestran que los algoritmos logran un cierto nivel de precisión, con tasas de error de la siguiente manera: algoritmo BP, 0.01-0.02%; algoritmo XGBOOST, 0.01-0.02%; y algoritmo KNN, 0-0.07%. Al comparar estos algoritmos, el estudio demuestra la viabilidad de implementar modelos de aprendizaje automático para la predicción de la vida útil del dispositivo con una pérdida de precisión aceptable, y destaca el potencial de los algoritmos de IA en la predicción de la fiabilidad de los dispositivos electrónicos.

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