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Dispositivo de plasticidad dependiente del tiempo de pico con capa de cambio de conductancia Ga-Sn-O depositada mediante el método Mist-CVD

Autores: Kita, Hidehito; Uno, Kazuma; Matsuda, Tokiyoshi; Kawanishi, Hidenori; Kimura, Mutsumi

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Dispositivo de plasticidad dependiente del tiempo de pico con capa de cambio de conductancia Ga-Sn-O depositada mediante el método Mist-CVD


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Plasticidad dependiente del tiempo de disparo
Ga-Sn-O
GTO
Método CVD de niebla
Característica memristiva
Película delgada

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 44

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
Se ha desarrollado un dispositivo de plasticidad dependiente del tiempo de disparo (STDP) con una capa de cambio de conductancia de Ga-Sn-O (GTO) depositada mediante un método de mist-CVD. Primero, se analiza la característica memristiva. A continuación, basado en ello, se determinan las formas de onda de los picos. Finalmente, la característica STDP se confirma con éxito. Este es un informe original sobre la realización de una característica STDP utilizando una película delgada depositada por el método mist-CVD, que se logra mediante las propiedades de GTO y una metodología clara y bien diseñada para realizar una característica STDP a partir de una característica memristiva.

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