Permitividad del silicio no dopado en el rango de ondas milimétricas
Autores: Yang, Xiaofan; Liu, Xiaoming; Yu, Shuo; Gan, Lu; Zhou, Jun; Zeng, Yonghu
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2019
Acceso abierto
Artículo científico
2019
Permitividad del silicio no dopado en el rango de ondas milimétricas
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Desarrollo rápido
Tecnología de onda milimétrica
Permitividad
Medición dieléctrica
Silicio
Rango de ondas milimétricas
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 28
Citaciones: Sin citaciones
Con el rápido desarrollo de la tecnología de ondas milimétricas, es un requisito fundamental entender la permitividad de los materiales en este rango de frecuencia.
Descripción
Con el rápido desarrollo de la tecnología de ondas milimétricas, es un requisito fundamental entender la permitividad de los materiales en este rango de frecuencia.