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Paralelismo de dispositivos semiconductores de potencia IGBT y problemas de confiabilidad

Autores: Tripathi, Ravi Nath; Omura, Ichiro

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2023

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Acceso abierto

Artículo científico
2023

Paralelismo de dispositivos semiconductores de potencia IGBT y problemas de confiabilidad


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Dispositivos semiconductores de potencia
Paralelismo
Desequilibrio
Parámetros del dispositivo
Problemas de fiabilidad
Desequilibrio de corriente

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 35

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
La paralelización de dispositivos semiconductores de potencia es inevitable dada su amplia aplicación y explotación en el horizonte extendido de estas aplicaciones. Sin embargo, la paralelización de dispositivos semiconductores de potencia es propensa a un desequilibrio severo correspondiente a las no idealidades de los parámetros del dispositivo, lo que conduce a características dinámicas y estáticas no idénticas de los dispositivos de potencia, así como a las condiciones de funcionamiento y envejecimiento. Por lo tanto, las corrientes suelen ser no uniformes y causan la reducción de la potencia del sistema. Este documento discute y analiza los problemas asociados con la paralelización de dispositivos de potencia IGBT, que pueden provocar problemas de confiabilidad graves. Además, el documento examina las técnicas y metodologías que se han propuesto para reducir el problema del desequilibrio de corriente de dispositivos de potencia conectados en paralelo.

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