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Selección de características para clasificación de datos en la industria de semiconductores mediante una combinación de optimización híbrida de enjambre simplificada

Autores: Yeh, Wei-Chang; Chu, Chia-Li

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2024

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Acceso abierto

Artículo científico
2024

Selección de características para clasificación de datos en la industria de semiconductores mediante una combinación de optimización híbrida de enjambre simplificada


Categoría

Ingeniería y Tecnología

Subcategoría

Ingeniería Eléctrica y Electrónica

Palabras clave

Fabricación de semiconductores
Metodologías de aprendizaje automático
Detección de anomalías
Reducción de dimensionalidad
Selección de características
Precisión de clasificación

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 42

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
En la industria de fabricación de semiconductores, lograr altos rendimientos constituye uno de los factores clave para mantener la competitividad en el mercado.

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