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Mejorando el rendimiento de las funciones físicamente no clonables utilizando mediciones compensadas de segundo orden

Autores: Fernández-Aragón, Jorge; Diez-Señorans, Guillermo; Garcia-Bosque, Miguel; Aparicio-Téllez, Raúl; López-Pinar, Gabriel; Celma, Santiago

Idioma: Inglés

Editor: MDPI

Año: 2025

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Acceso abierto

Artículo científico
2025

Mejorando el rendimiento de las funciones físicamente no clonables utilizando mediciones compensadas de segundo orden


Categoría

Gestión y administración

Subcategoría

Gestión de la tecnología y la inovación

Palabras clave

Estudio
Medición compensada de segundo orden
Respuesta de múltiples bits
Funciones físicamente no clonables
PUFs
Identificabilidad

Licencia

CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual

Consultas: 1

Citaciones: Sin citaciones


Descripción
En este artículo, estudiamos el rendimiento de la medición compensada de segundo orden para generar una respuesta de múltiples bits en funciones físicamente no clonables (PUFs). La técnica propuesta se basa en una novedosa medición compensada de segundo orden que genera múltiples bits en lugar de un solo bit proporcionado por la medición compensada convencional. Se ha propuesto e implementado un PUF basado en esta técnica en 40 FPGAs Artix-7, y su singularidad y reproducibilidad se han comparado con las de otro PUF que utiliza la técnica de medición compensada. Además, demostramos que el mejor compromiso entre identificabilidad y rendimiento del tiempo de cálculo se obtiene al usar solo dos bits. Al mismo tiempo, se ha demostrado el buen rendimiento de la técnica, mejorando la identificabilidad de un PUF de oscilador de anillo (RO-PUF) entre un 70 y un 90% en comparación con un RO-PUF que utiliza medición compensada convencional. En particular, se pueden lograr tasas de error iguales (EER) del orden de EER10-16 al combinar el bit de signo con otro bit extraído utilizando la técnica propuesta; y hasta EER10-19 al usar un bit adicional más. Además, se ha probado la alta fiabilidad de las respuestas generadas por esta técnica frente a posibles variaciones de temperatura y voltaje. Estos resultados muestran cómo esta nueva técnica mejora el rendimiento del PUF en términos de identificabilidad, por lo que puede ser utilizada de manera efectiva para fines de identificación de dispositivos.

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