Condición óptima de sesgo de Dummy WL para operación de borrado de GIDL de sub-bloque en memoria flash NAND 3D
Autores: Kim, Beomsu; Kang, Myounggon
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2022
Acceso abierto
Artículo científico
2022
Condición óptima de sesgo de Dummy WL para operación de borrado de GIDL de sub-bloque en memoria flash NAND 3D
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Analizar
WL ficticio
Sub-bloque
Operación de borrado
Memoria flash NAND 3D
HDensidad
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 21
Citaciones: Sin citaciones
En este estudio, hemos analizado la condición de sesgo óptima de la WL ficticia para la operación de borrado de fugas de drenaje inducidas por la puerta del sub-bloque en la memoria flash NAND 3D de 16 capas.
Descripción
En este estudio, hemos analizado la condición de sesgo óptima de la WL ficticia para la operación de borrado de fugas de drenaje inducidas por la puerta del sub-bloque en la memoria flash NAND 3D de 16 capas.