En este trabajo, se obtienen los parámetros bolométricos de películas semimetálicas SWCNT acopladas a antenas fractales de Sierpinski mediante caracterización termoeléctrica, esto con el fin de determinar su desempeño como bolómetro. El método se basó en una configuración experimental que consideraba una conexión inalámbrica de línea de visión entre dos antenas fractales planas idénticas, termografía infrarroja y mediciones de resistencia eléctrica. La configuración experimental consideró las frecuencias resonantes de las antenas. Tanto la antena transmisora como la receptora eran dipolos fractales de Sierpinski de tercera iteración diseñados para funcionar a frecuencias UHF. Películas hechas ya sea de SWCNT agrietados o no agrietados se acoplaron por separado a la antena fractal receptora. Las mediciones mostraron que la antena receptora que fue impactada con radiación a frecuencias UHF proveniente de la antena transmisora, experimentó como se esperaba una inducción de corriente eléctrica, la corriente inducida fluía a través de la película produciendo un cambio de temperatura, lo que a su vez causaba cambios en el calor radiado de la película, así como cambios en la resistencia eléctrica conocida como Coeficiente de Temperatura de Resistencia TCR. El valor máximo de TCR para películas de SWCNT no agrietadas fue de -3.6%K, mayor que el observado para películas de SWCNT agrietadas que mostraron un valor máximo de -1.46%K. Las mediciones para la conversión de la radiación incidente en señales eléctricas conocida como la Responsividad de Voltaje, mostraron valores de 9.4 mV/W y 1.4 mV/W para películas de SWCNT no agrietadas y películas de SWCNT agrietadas, respectivamente.