Optimización de la estructura celular para MOSFETs de potencia endurecidos contra la radiación
Autores: Wang, Teng; Wan, Xin; Jin, Hu; Li, Hao; Sun, Yabin; Liang, Renrong; Xu, Jun; Zheng, Lirong
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2019
Acceso abierto
Artículo científico
2019
Optimización de la estructura celular para MOSFETs de potencia endurecidos contra la radiación
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Transistores de potencia
Sistemas de energía espacial
Resistencia a la radiación
Optimización de la estructura de celdas
Rendimiento eléctrico
Dosis total de radiación ionizante
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 41
Citaciones: Sin citaciones
Los MOSFET de potencia especialmente diseñados para sistemas de energía espacial deben cumplir simultáneamente con los requisitos de rendimiento eléctrico y resistencia a la radiación. El diseño de MOSFET de potencia resistente a la radiación (rad-hard) se puede lograr a través de la optimización de la estructura de celdas. Este documento realiza una investigación de los parámetros geométricos de las celdas con impacto significativo en la resistencia a la radiación, y se diseña y fabrica un MOSFET de potencia rad-hard. Los resultados experimentales validan la resistencia de los dispositivos a la dosis total de ionización (TID) y a los efectos de eventos individuales (SEE) para satisfacer adecuadamente la mayoría de los requisitos del sistema de energía espacial, manteniendo un rendimiento eléctrico aceptable.
Descripción
Los MOSFET de potencia especialmente diseñados para sistemas de energía espacial deben cumplir simultáneamente con los requisitos de rendimiento eléctrico y resistencia a la radiación. El diseño de MOSFET de potencia resistente a la radiación (rad-hard) se puede lograr a través de la optimización de la estructura de celdas. Este documento realiza una investigación de los parámetros geométricos de las celdas con impacto significativo en la resistencia a la radiación, y se diseña y fabrica un MOSFET de potencia rad-hard. Los resultados experimentales validan la resistencia de los dispositivos a la dosis total de ionización (TID) y a los efectos de eventos individuales (SEE) para satisfacer adecuadamente la mayoría de los requisitos del sistema de energía espacial, manteniendo un rendimiento eléctrico aceptable.