Un Método Novel para la Alineación de Módulos LCD y Detección de Partículas en el Enlace de Película Conductiva Anisotrópica
Autores: Li, Tengyang; Zhang, Feng; Yang, Huabin; Luo, Huiyuan; Zhang, Zhengtao
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Un Método Novel para la Alineación de Módulos LCD y Detección de Partículas en el Enlace de Película Conductiva Anisotrópica
Categoría
Tecnología de Equipos y Accesorios
Subcategoría
Diseño de equipos y herramientas
Palabras clave
Método propuesto
Algoritmo de detección de partículas
Módulo LCD
Unión ACF
Error de alineación
Precisión en la detección de partículas
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 22
Citaciones: Sin citaciones
En este artículo, proponemos un método de corrección de desalineación y un algoritmo de detección de partículas para mejorar la precisión en la inspección de calidad del módulo LCD después del encolado de la película conductora anisotrópica (ACF). Utilizamos solo una cámara para adquirir imágenes de múltiples posiciones con el fin de establecer la transformación del espacio de imagen a las coordenadas del mundo. Nuestro método puede determinar con precisión el centro de rotación de la mesa portadora y calcular la desviación de posición y ángulo del módulo probado. En comparación con las formas tradicionales que dependen de múltiples cámaras para alinear productos de gran tamaño, nuestro método tiene las ventajas de una estructura simple, bajo costo y un proceso de calibración rápido. La detección de partículas se realiza después de posicionar todos los bultos del módulo encolado. Se desarrolla un algoritmo basado en morfología de gris para detectar el punto extremo de cada partícula y refinar el resultado de la partícula a través del análisis de blobs. Este método reduce la tasa de sobre-verificación y tiene un mejor rendimiento en la precisión de detección para partículas densas. Verificamos la efectividad de nuestros métodos propuestos en nuestros experimentos. El error de alineación puede ser inferior a 0.05 mm, y la precisión de la detección de partículas es del 93% mientras que la tasa de recuperación es del 92.4%.
Descripción
En este artículo, proponemos un método de corrección de desalineación y un algoritmo de detección de partículas para mejorar la precisión en la inspección de calidad del módulo LCD después del encolado de la película conductora anisotrópica (ACF). Utilizamos solo una cámara para adquirir imágenes de múltiples posiciones con el fin de establecer la transformación del espacio de imagen a las coordenadas del mundo. Nuestro método puede determinar con precisión el centro de rotación de la mesa portadora y calcular la desviación de posición y ángulo del módulo probado. En comparación con las formas tradicionales que dependen de múltiples cámaras para alinear productos de gran tamaño, nuestro método tiene las ventajas de una estructura simple, bajo costo y un proceso de calibración rápido. La detección de partículas se realiza después de posicionar todos los bultos del módulo encolado. Se desarrolla un algoritmo basado en morfología de gris para detectar el punto extremo de cada partícula y refinar el resultado de la partícula a través del análisis de blobs. Este método reduce la tasa de sobre-verificación y tiene un mejor rendimiento en la precisión de detección para partículas densas. Verificamos la efectividad de nuestros métodos propuestos en nuestros experimentos. El error de alineación puede ser inferior a 0.05 mm, y la precisión de la detección de partículas es del 93% mientras que la tasa de recuperación es del 92.4%.