Se presenta y valida una nueva técnica transitoria de medición de la conductividad térmica y la difusividad para materiales anisotrópicos. Se basa en medir las propiedades a través del plano utilizando el método de fuente plana dinámica extendida (EDPS) y la conductividad en el plano empleando los métodos de fuente plana transitoria (TPS) y fuente plana dinámica modificada (MDPS). La principal ventaja de esta técnica es que solo se requiere un par de especímenes para las mediciones. Mientras que el método EDPS se implementa en mediciones reales, los métodos TPS y MDPS se aplican a la simulación del experimento mediante el método de elementos finitos (FEM). La precisión de los resultados se mejora con la aplicación del FEM y es mejor del 1% para materiales con conductividad a través del plano de menos de 2 W m K y un grosor de espécimen de 9 mm.