Near-field imaging of dielectric components using an array of microwave sensors
Autores: Gao, Yuki; Ravan, Maryam; Amineh, Reza K.
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Near-field imaging of dielectric components using an array of microwave sensors
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Imágenes de microondas
Defectos ocultos
Componentes no metálicos
Sensores de microondas
Resonadores de anillo dividido complementarios
Imágenes de alta resolución
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 34
Citaciones: Sin citaciones
La imagen por microondas es un método de alta resolución, no invasivo y sin contacto para detectar defectos ocultos, grietas y objetos con aplicaciones para probar componentes no metálicos como placas de circuito impreso, diagnóstico biomédico, inspección de componentes aeroespaciales, etc.
Descripción
La imagen por microondas es un método de alta resolución, no invasivo y sin contacto para detectar defectos ocultos, grietas y objetos con aplicaciones para probar componentes no metálicos como placas de circuito impreso, diagnóstico biomédico, inspección de componentes aeroespaciales, etc.