Para componentes electrónicos de satélite caracterizados por alta confiabilidad y larga vida útil, lograr una mejora en la eficiencia de la predicción de confiabilidad es esencial cuando solo se dispone de una cantidad limitada de datos. Muchos estudios han recopilado datos de degradación utilizando estrategias de muestreo uniforme. En este trabajo, proponemos estrategias de muestreo óptimo G- y D- secuenciales para la recopilación de datos de degradación en órbita basados en el proceso de Wiener, con el objetivo de mejorar la eficiencia de la predicción de confiabilidad. Finalmente, se realiza un estudio de simulación para verificar la efectividad de las estrategias propuestas. Este estudio utiliza modelos lineales y no lineales de MOSFETs de satélite y emplea el método de Monte Carlo.