Muestreo dinámico basado en la profundidad de campos de radiación neural
Autores: Wang, Jie; Xiao, Jiangjian; Zhang, Xiaolu; Xu, Xiaolin; Jin, Tianxing; Jin, Zhijia
Idioma: Inglés
Editor: MDPI
Año: 2023
Acceso abierto
Artículo científico
2023
Muestreo dinámico basado en la profundidad de campos de radiación neural
Categoría
Ingeniería y Tecnología
Subcategoría
Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Palabras clave
Enfoque de nerf
Nerf de profundidad-dinámica
Red mlp de profundidad-dinámica
Pérdida de profundidad
Estructura geométrica
Imágenes de alta calidad
Licencia
CC BY-SA – Atribución – Compartir Igual
Consultas: 21
Citaciones: Sin citaciones
Aunque el enfoque NeRF puede lograr una síntesis de vistas sobresaliente, está limitado en su uso práctico porque requiere muchas vistas (cientos) para el entrenamiento. Con solo unas pocas vistas de entrada, el Depth-DYN NeRF que proponemos puede coincidir con precisión la forma.
Descripción
Aunque el enfoque NeRF puede lograr una síntesis de vistas sobresaliente, está limitado en su uso práctico porque requiere muchas vistas (cientos) para el entrenamiento. Con solo unas pocas vistas de entrada, el Depth-DYN NeRF que proponemos puede coincidir con precisión la forma.