Se desarrolló un nuevo proceso estocástico considerando el rendimiento interno de macroestados en los que el tiempo de permanencia en cada uno está distribuido en fase tipo dependiendo del tiempo. Se calculó la distribución estacionaria a través de métodos matriciales y se trabajaron múltiples medidas interesantes. Se analizó la distribución del número de visitas a un macroestado determinado a partir de las ecuaciones diferenciales respectivas y la transformada de Laplace. Se proporcionó el número medio de visitas a un macroestado entre dos tiempos. Los resultados se implementaron computacionalmente y se aplicaron con éxito para estudiar el ruido de telegrafía aleatorio (RTN) en memorias resistivas. RTN es una preocupación importante en la operación de la memoria de acceso aleatorio resistiva (RRAM). Por un lado, podría limitar algunas de las aplicaciones tecnológicas de estos dispositivos; por otro lado, RTN puede usarse para la caracterización física. Por lo tanto, un análisis estadístico en profundidad para modelar el comportamiento de estos dispositivos es de importancia esencial.