Debido a los efectos de enmascaramiento intrínsecos de los circuitos combinacionales en los diseños digitales, los efectos de Transitorio de Evento Único (SET) se consideraron irrelevantes en comparación con la ruptura de datos causada por los efectos de Alteración de Evento Único (SEU). Sin embargo, la importancia de considerar SET en circuitos de Integración de Sistemas de Muy Gran Escala (VLSI) aumenta dada la reducción de las dimensiones de los transistores y la profundidad de la ruta de datos lógicos en nodos tecnológicos avanzados. En consecuencia, la amenaza de SET en sistemas electrónicos para aplicaciones espaciales debe ser abordada cuidadosamente junto con la caracterización de SEU. En este trabajo, se presenta una metodología de predicción sistemática para evaluar y mejorar la inmunidad a SET de los circuitos digitales. Además, se discute la aplicabilidad a metodologías de diseño de circuito personalizado y basadas en celdas, y se propone un análisis basado en la probabilidad de señal y la asignación de pines para lograr una optimización más eficiente en aplicaciones conscientes de SET de circuitos sintetizados. Por ejemplo, una asignación de pines consciente de SET puede proporcionar una reducción del 37% y del 16% en la tasa de SET de una puerta NOR para una Órbita Geoestacionaria (GEO) y la órbita de la Estación Espacial Internacional (ISS), respectivamente.