Generalizamos la definición del tamaño de características locales de muestreo adaptativo utilizado en la reconstrucción de superficies para relacionarlo con una métrica alternativa en el espacio euclidiano. En la nueva métrica, las muestras adaptativas se convierten en muestras uniformes, lo que simplifica tanto la obtención de versiones de muestreo adaptativo de resultados de inferencia homológica como la demostración de garantías topológicas utilizando la teoría de puntos críticos de funciones de distancia. Esto conduce en última instancia a un algoritmo para la inferencia de homología a partir de muestras cuyo espaciado depende de su distancia a una representación discreta del espacio complementario.